Центр колективного користування „РЕНТГЕНІВСЬКА ФОТОЕЛЕКТРОННА СПЕКТРОСКОПІЯ (РФС/ЕСХА)”

Зразки

Вимоги до зразків

• Метали, сплави, хімічні сполуки, напівпровідники, діелектрики.
• Порошки, плівки, покриття, пластини /диски, нанопорошки , наноплівки.

Площа суцільного зразка ≤1см2, товщина ≤ 4 мм, об’єм порошку ≥0.1 см3

Зразки для аналізу здаються в бюксах/пробірках/контейнерах/пакетах з надписами в загальному пластиковому пакеті з замком та супроводжувальною запискою, в якій вказано:

• Номера, назви та приблизні формули зразків.
• Приблизні атомні відсотки основних та легуючих елементів.
• Додаткова інформація щодо зразків ( мета синтезу, мета легування, що цікавить)
• Інформація щодо електронної структури зразків (внутрішні рівні, функціональні групи та ін.).
• Інформація по публікаціям ( лінки свіжих XPS - статей по темі або класу зразків)
• Організація, кімната, ПІБ автора, підпис, роб. та моб. тел., ел. пошта.
• Дата синтезу та дата передачі на дослідження.

Форми заявок на проведення досліджень в ЦККНП "Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (РФС/ЕСХА)" від організацій різного відомчого підпорядкування наведені нижче:

Форма 1 - для відділів та лабораторій ІЗНХ НАН України

Форма 2 - Для організацій НАН України

Форма 3 - Для організацій інших відомств