Центр рентгенографічних та імпедансометричних досліджень
полікристалічних матеріалів

Обладнання

ДРОН-УМ

ДРОН-3М

ДРОН-4-07

1. Рентгенівські дифрактометри ДРОН-УМ, ДРОН-3М та ДРОН-4-07

   Автоматичні рентгенівські дифрактометри серії ДРОН (НПО Буревісник) призначені для широкого кола досліджень порошкових, плівкових та твердих зразків при кімнатній температурі та можуть бути використані для виконання наступних завдань:

   • якісний і кількісний фазовий аналіз,
   • визначення механічних мікронапруг кристалічною гратки,
   • визначення розмірів областей когерентного розсіювання (ОКР)
   • вивчення ближнього порядку
   • дослідження полікристалічних твердих розчинів
   • дослідження текстури (переважної орієнтації) полікристалів та орієнтації монокристалів
   • отримання даних для уточнення структурних параметрів методом повнопрофільного аналізу

   Основні технічні характеристики:

   • Потужність рентгенівської трубки 1 кВт
   • Трубка CuKα (Ni фільтр)
   • Прискорююча напруга 20-40 кВ
   • Струм трубки 5-40 мА
   • Діапазон кутів 2Θ: від -5 ° до 145 °
   • Покрокова зйомка, позиціонування кроковим двигуном
   • Мінімальний крок зйомки 2Θ = 0.01
   • Час витримки в точці 3-20 сек
2. Настільний скануючий електронний мікроскоп SEC miniSEM SNE 4500MB з енергодисперсійним рентгенівським аналізатором EDAX Element PV6500/00 F та системою напилення електродів SC7620 ‘Mini’ Sputter Coater.
   SEC miniSEM SNE 4500MB

   

   Електронний мікроскоп SEC miniSEM SNE 4500MB створений з метою забезпечувати високу продуктивність та зручність роботи. Конфігурація SNE-4500M забезпечує високу якість зображення, простоту використання, високу роздільну здатність (5 нм) і велике збільшення (100 000х). Якість зображення такі функції як автофокус, автояскравість і автоконтрастність. Гнучкість інтеграції, управління столиком по п'яти осях, апертура з чотирма отворами різних розмірів, SE і BSE детектори дозволяють отримати зображення зразка вже через дві хвилини після завантаження. тому електронний настільний мікроскоп SEC Mini-SEM є лідером у своєму сегменті.

   Основні технічні характеристики:

   • Збільшення до 100 000х (цифрове збільшення 4х)
   • Роздільна здатність 5 нм (SE, 30 кВ)
   • Детектор вторинних електронів (SE)
   • Детектор зворотно розсіяних електронів (BSE)
   • Система високого вакууму
   • Прискорююча напруга 5-30 кВ (5,10,15,20,30 кВ)
   • 5-ти осьовий стіл для зразків X,Y,Z,R,T (X,Y = 40 мм, Z = 0-35 мм, R – 360° T – 0-45° )
   • Максимальний розмір зразка – до 80 мм в діаметрі та до 35 мм по висоті.
   • Повністю автоматизована вакуумна система (роторний насос, турбо молекулярний насос)

   Енергодисперсійний рентгенівський аналізатор EDAX Element PV6500/00 F Енерго дисперсійний спектрометр може бути адаптований до всіх скануючих електронних мікроскопів фірми SEC. Елементний аналіз є найбільш широко використовуваним методом ідентифікації елементного складу та візуалізації матеріалу. EDS аналіз дозволяє визначати майже всі хімічні елементи починаючи від берилію в періодичній системі елементів. Цей метод має вирішальне значення при розробці нових наноматеріалів, а також аналізі продуктів різних процесів виробництва.

   • Кремнієвий дрейфовий детектор (SDD) з ультра тонким вікном з нітриду кремнію (Si₃N₄)
   • Активний детектор площею 25 мм²
   • Термоелектричний охолоджувач (LN2 free)
   • Ультра тонке вікно з нітриду кремнію (Si₃N₄)
   • Визначення елементів від B до Am.
   SC7620 ‘Mini’ Sputter Coater

   Система напилення електродів SC7620 ‘Mini’ Sputter Coater поєднує в собі компактну недорогу установку для скануючого електронного мікроскопу (СЕМ), що дозволяє проводити напилення покриттів як вуглецю так і золото-паладієвих сплавів одночасно. SC7620 призначений для повсякденного використання, використовуючи основну головку SC7620 дозволяє проводити магнетронне напилення провідних плівок (золота/ паладію). У поєднанні з додатковою головкою SC7620-CF для нанесення вуглецевого покриття методом тліючого розряду робить його ідеальною недорогою системою для нанесення провідних покриттів. Змінюючи робочі головки система може бути легко переключена від магнетронного напилення металічних покриттів до напилення вуглецю методом тліючого розряду. SC7620 є надійним приладом, простим в експлуатації, що підкріплено трьох річною гарантією.

   • Міні напилююча установка
   • 2 ступінчастий масляний роторний насос
   • Вуглецеві волокна для напилення
   • Золото/паладієва мішень
   • EK3175 двоступінчастий роторний вакуумний нанос продуктивністю 50л/хв з вмонтованим фільтром масляного випаровування.
   • Фільтр масляного туману
   • Джерело живлення 220 - 240V, 50 - 60 Hz
3. Аналізатор імпедансу (Impedance/Gain-phase Analyzer 1260A) з діелектричним розширювачем (1296A Dielectric Interface)
   Impedance/Gain-phase Analyzer 1260A

   1260A Impedance/Gain-Phase Analyzer на сьогодні є найточнішим аналізатором імпедансу, що характеризується широким інтервалом можливостей (досліджуваним інтервалами частот, напруг постійного та змінного поля, тощо), має запатентовану високоефективну систему видалення шуму та гармонічних деформацій сигналу. Може використовуватися для досліджень ряду технічно важливих матеріалів та елементів, зокрема, акумуляторів, паливних елементів, сонячних елементів, кераміки, композитних структур, плівок.

   - Спектральний діапазон від 10 мГц до 32 МГц;

   - Досліджуваний імпеданс до 100 МОм;

   - Роздільна здатність 0,015 ppm;

   - Точність 0,1% і 0,1°;

   - Конфігурація вимірювання: 2-, 3- і 4-електродна;

   - Поляризаційна напруга ± 40,95 В.

   1296A Dielectric Interface використовується разом з аналізатором імпедансу 1260A для подолання обмежень, що виникають при дослідженнях матеріалів з низькою провідністю та низькими діелектричними втратами.

   - Вимірювання імпедансу перевищує 100 ТΩ (10¹⁴ Ом);

   - Точність вимірювання діелектричних втрат <10⁴;

   - Напруга змінного та постійного струму до 10 000 В (з зовнішнім генератором) для досліджень діелектричного пробою та нелінійності.